超(chao)聲波測(ce)厚(hou)儀(yi)是(shi)采(cai)用高性(xing)能(neng)、低(di)功耗微(wei)處理器(qi)技(ji)術，基於超(chao)聲波測(ce)量(liang)原理(li)，可(ke)以測(ce)量(liang)金屬(shu)及(ji)其(qi)它多(duo)種(zhong)材料的(de)厚(hou)度(du)，並可(ke)以對(dui)材料的(de)聲速進(jin)行測量。可(ke)以對(dui)生產(chan)設備(bei)中各種(zhong)管(guan)道和壓力(li)容(rong)器(qi)進(jin)行厚度(du)測量(liang)，監測(ce)它(ta)們在(zai)使(shi)用過程(cheng)中受腐(fu)蝕(shi)後(hou)的減(jian)薄(bo)程(cheng)度(du)，也可(ke)以對(dui)各(ge)種(zhong)板(ban)材和各(ge)種(zhong)加(jia)工(gong)零件(jian)作(zuo)準(zhun)確測量。
 

　　本(ben)儀(yi)器(qi)可(ke)廣(guang)泛(fan)應(ying)用於石油(you)、化(hua)工(gong)、冶(ye)金、造船(chuan)、航(hang)空、航天等(deng)各(ge)個(ge)領(ling)域。是由探(tan)頭產(chan)生超(chao)聲波脈沖(chong)透過耦合(he)劑(ji)到達(da)被(bei)測(ce)體(ti)，壹(yi)部分(fen)超聲信號被(bei)物(wu)體(ti)底面(mian)反(fan)射，探(tan)頭接收由被(bei)測(ce)體(ti)底面(mian)反(fan)射的回(hui)波，準(zhun)確地計(ji)算(suan)超聲波的(de)往(wang)返時(shi)間，並(bing)按(an)下式計(ji)算(suan)厚度(du)值(zhi)，再將(jiang)計(ji)算(suan)結果顯示出(chu)來。
 

　　主(zhu)要(yao)功能(neng)：
 

　　1.適合(he)測量(liang)金屬(shu)(如(ru)鋼、鑄(zhu)鐵(tie)、鋁、銅(tong)等(deng))、塑料(liao)、陶(tao)瓷(ci)、玻(bo)璃(li)、玻(bo)璃(li)纖(xian)維及(ji)其(qi)他(ta)任(ren)何(he)超(chao)聲波的(de)良(liang)導體(ti)的(de)厚(hou)度(du)；
 

　　2.可(ke)配(pei)備(bei)多種(zhong)不同頻(pin)率、不同晶(jing)片尺(chi)寸(cun)的(de)雙晶(jing)探(tan)頭使用；
 

　　3.具有探(tan)頭零點(dian)校準、兩點校準(zhun)功能(neng)，可(ke)對(dui)系(xi)統(tong)誤差進(jin)行自(zi)動修(xiu)正；
 

　　4.已(yi)知厚(hou)度(du)可(ke)以反(fan)測(ce)聲速，以提(ti)高測(ce)量精度(du)；
 

　　5.具有耦合(he)狀(zhuang)態(tai)提(ti)示功能(neng)；
 

　　6.有EL背(bei)光顯示，方(fang)便(bian)在(zai)光線(xian)昏暗環境中使用；
 

　　7.有剩(sheng)余(yu)電(dian)量(liang)指示功能(neng)，可(ke)實時顯示電(dian)池剩(sheng)余(yu)電(dian)量(liang)；
 

　　8.具有自(zi)動休(xiu)眠、自(zi)動關機(ji)等節(jie)電功能(neng)；
 

　　9.小巧、便(bian)攜(xie)、可(ke)靠性(xing)高，適用於惡劣(lie)的(de)操(cao)作環境，抗振(zhen)動(dong)、沖擊(ji)和(he)電磁(ci)幹擾(rao)。
 

　　測量註意(yi)下列(lie)事(shi)項(xiang)：
 

　　1.在(zai)進(jin)行測試的(de)時(shi)候(hou)要(yao)註意(yi)標準(zhun)片集體(ti)的(de)金(jin)屬(shu)磁(ci)性(xing)和(he)表(biao)面(mian)粗糙度(du)應(ying)當與試件(jian)相(xiang)似(si)。
 

　　2.測量(liang)時(shi)側頭與試樣(yang)表(biao)面(mian)保(bao)持垂(chui)直(zhi)。
 

　　3.測(ce)量(liang)時(shi)要(yao)註意(yi)基體(ti)金(jin)屬(shu)的(de)臨(lin)界(jie)厚(hou)度(du)，如(ru)果大於(yu)這(zhe)個(ge)厚度(du)測量(liang)就(jiu)不受基(ji)體(ti)金(jin)屬(shu)厚(hou)度(du)的影(ying)響(xiang)。
 

　　4.測(ce)量時要(yao)註意(yi)試件(jian)的(de)曲(qu)率對測(ce)量(liang)的影(ying)響(xiang)。因(yin)此在(zai)彎曲的試件(jian)表(biao)面(mian)上(shang)測量(liang)時(shi)不可(ke)靠的。
 

　　5.測(ce)量(liang)前(qian)要(yao)註意(yi)周(zhou)圍其(qi)他(ta)的(de)電器(qi)設備(bei)會不會(hui)產(chan)生磁(ci)場，如(ru)果會將(jiang)會(hui)幹擾(rao)磁(ci)性(xing)測(ce)厚(hou)法(fa)。
 

　　6.測量時要(yao)註意(yi)不要(yao)在內轉角處和靠近試(shi)件(jian)邊緣(yuan)處測量(liang)，因(yin)為(wei)壹般的(de)測(ce)厚(hou)儀(yi)試(shi)件(jian)表(biao)面(mian)形(xing)狀(zhuang)的(de)忽然(ran)變(bian)化(hua)很(hen)敏感。
 

　　7.在測量時(shi)要(yao)保持壓力(li)的(de)恒(heng)定(ding)，否(fou)則(ze)會影(ying)響(xiang)測(ce)量的讀數。
 

　　8.在(zai)進(jin)行測試的(de)時(shi)候(hou)要(yao)註意(yi)儀(yi)器(qi)測(ce)頭和被(bei)測(ce)試(shi)件(jian)的(de)要(yao)直(zhi)接接觸，因(yin)此超(chao)聲波測(ce)厚(hou)儀(yi)在(zai)進(jin)行對側頭清除附著物(wu)質(zhi)。