試驗機(ji)的(de)技(ji)術參數(shu)和(he)技(ji)術指標(biao)：

方(fang)案(an)描述：

3.1 主(zhu)機(ji)：采用(yong)龍門結(jie)構，主(zhu)機(ji)框架(jia)通過力學(xue)有限(xian)元(yuan)分析(xi)，框(kuang)架(jia)的(de)剛度和強度得(de)到充分保證(zheng)。傳動(dong)系統采用(yong)零間隙(xi)滾(gun)珠絲(si)杠副(fu)，保證(zheng)了試驗結(jie)果的(de)準(zhun)確(que)性和耐(nai)久(jiu)性，主(zhu)機(ji)框架(jia)應(ying)用(yong)導(dao)向(xiang)立(li)柱導(dao)向(xiang)，保證(zheng)了框架的(de)剛性。

3.2 傳(chuan)動(dong)系統：由同(tong)步(bu)齒(chi)形(xing)帶、精密滾(gun)珠(zhu)絲(si)杠副(fu)及導(dao)向(xiang)部分等(deng)組(zu)成(cheng)。

3.3 驅動(dong)系統：由數(shu)控(kong)調(tiao)速器(qi)及其(qi)電(dian)機(ji)實(shi)現系(xi)統的(de)驅動(dong)。

3.4 測(ce)量(liang)控(kong)制(zhi)系統：試驗力(li)測(ce)量(liang)控(kong)制(zhi)系統由高(gao)精度負荷(he)傳(chuan)感器(qi)、測(ce)量(liang)放(fang)大(da)器(qi)、A/D轉(zhuan)換(huan)、穩壓電(dian)源(yuan)等(deng)組(zu)成(cheng)；位移測(ce)量(liang)控(kong)制(zhi)系統由光(guang)電(dian)編(bian)碼器(qi)、倍頻(pin)整(zheng)形(xing)電(dian)路(lu)、計(ji)數(shu)電(dian)路(lu)等(deng)組(zu)成(cheng)。通過各種信號(hao)處理(li)，實(shi)現計(ji)算機(ji)顯示(shi)、控(kong)制(zhi)及數(shu)據(ju)處理(li)等(deng)功能

3.5 安(an)全保護(hu)裝(zhuang)置：超額定載(zai)荷(he)10%過載保護(hu)、橫(heng)梁極(ji)限(xian)位置保護(hu)、過電流(liu)、過電壓(ya)、超速(su)保護(hu)等(deng)。

3.6控(kong)制(zhi)軟(ruan)件系(xi)統

3.6.1該測(ce)控(kong)軟(ruan)件由(you)動(dong)態通訊，數(shu)據(ju)采集(ji)，結果(guo)觀察(cha)，記錄查詢，數(shu)據(ju)處理(li)及(ji)打印等(deng)功能模(mo)塊組(zu)成(cheng)。保證(zheng)了數(shu)據(ju)采集(ji)的(de)高(gao)效性和準(zhun)確(que)性，結果(guo)輸(shu)出方(fang)便快(kuai)捷。

在外觀(guan)方(fang)面該測(ce)控(kong)軟(ruan)件具(ju)有界(jie)面清(qing)晰、美(mei)觀，操作(zuo)方(fang)便等(deng)優(you)點(dian)。（主(zhu)界(jie)面如(ru)下）

3.6.2可(ke)根(gen)據需求(qiu)建(jian)立(li)不(bu)同(tong)的(de)試驗方(fang)案(an)，壹個(ge)方(fang)案(an)下可(ke)建(jian)立(li)多(duo)個(ge)批號(hao)，進行批量(liang)試驗，試驗過程中(zhong)實(shi)時采集(ji)數(shu)據(ju)、實(shi)時繪制曲(qu)線，使用(yong)Access大(da)型(xing)數(shu)據(ju)庫(ku)進行數(shu)據(ju)存儲，方(fang)便用(yong)戶(hu)資源(yuan)共(gong)享(xiang)以及再分析(xi)。試驗完(wan)成後(hou)數(shu)據(ju)自動(dong)處理(li)並(bing)保存(cun)，可(ke)隨時查看試驗結(jie)果以及打印試驗報(bao)告(gao)，試驗報(bao)告(gao)格式可(ke)根(gen)據用(yong)戶(hu)的(de)不(bu)同(tong)要求(qiu)更(geng)改。試驗機(ji)對試驗數(shu)據(ju)的(de)處理(li)*符(fu)合(he)彈(dan)簧試驗機(ji)的(de)標(biao)準(zhun)。

3.6.3控(kong)制(zhi)方(fang)式：采用(yong)多種控(kong)制(zhi)方(fang)式，具體描述如(ru)下：

a) 設(she)定試驗力(li)P，檢測(ce)彈(dan)簧的(de)變形(xing)量(liang)F。           

b) 設(she)定變形(xing)量(liang)F，檢測(ce)彈(dan)簧的(de)試驗力(li)P。

c) 設(she)定試驗力(li)P，檢測(ce)彈(dan)簧的(de)剩(sheng)余高度H；

d) 設(she)定彈(dan)簧的(de)剩(sheng)余高度H，檢測(ce)彈(dan)簧的(de)試驗力(li)P；

3.6.4 可(ke)以設(she)置十個檢測(ce)點(dian)。可(ke)以對彈(dan)簧設(she)定預壓縮(suo)高度進行預壓縮(suo)，預壓縮(suo)次數(shu)可(ke)以隨意設(she)定。

3.6.5 批量(liang)試驗很(hen)大(da)程(cheng)度上方(fang)便了用(yong)戶(hu)的(de)使(shi)用(yong)，設(she)置試驗次數(shu)後(hou)，試驗機(ji)根(gen)據設(she)置的(de)次數(shu)自(zi)動(dong)試驗，無需人(ren)工(gong)幹(gan)預。

3.6.6試驗過程中(zhong)實(shi)現高(gao)速逼近(jin)，低(di)速(su)采集(ji)，保證(zheng)了試驗機(ji)數(shu)據(ju)采集(ji)的(de)高(gao)效性和準(zhun)確(que)性。

3.6.7 自(zi)行設(she)置試驗速(su)度，試驗完(wan)成後(hou)自動(dong)返(fan)回到(dao)初(chu)始位置。

3.6.8 具(ju)有過載自(zi)動(dong)停機功能。

3.6.9 配(pei)置手(shou)動(dong)微動(dong)進給(gei)裝(zhuang)置，在各種負(fu)載(zai)情況下，均能(neng)實(shi)現微動(dong)進給(gei)，方(fang)便進行標(biao)定與(yu)位移微調(tiao)。

3.6.10 能(neng)自動(dong)計(ji)算壓(ya)縮(suo)彈(dan)簧的(de)分段剛度P^/。

3.6.11軟(ruan)件標(biao)定部分

1）力(li)值(zhi)標(biao)定：采用(yong)三點(dian)標(biao)定的(de)方(fang)法(fa)使試驗力(li)值(zhi)更(geng)精確，精度更(geng)高(gao)。

2）位移補(bu)償：由(you)傳感器(qi)引起(qi)的(de)變形(xing)量(liang)可(ke)以補(bu)償。即(ji)傳感器(qi)和整(zheng)機(ji)剛度引起的(de)變形(xing)量(liang)不(bu)影(ying)響位移的(de)精度。

3.7 安(an)全功能：

3.7.1采用(yong)高速(su)對(dui)盤(pan)功能， 上(shang)壓盤(pan)會(hui)以300mm/min的(de)速(su)度自動(dong)並盤(pan)，然(ran)後自(zi)動(dong)將位移設(she)置為(wei)零，確(que)定下(xia)壓盤(pan)為(wei)位移零點(dian)。然(ran)後自(zi)動(dong)返(fan)回到(dao)距(ju)下(xia)壓盤(pan)50mm處停(ting)下(xia)。使試驗機(ji)的(de)精度達到更(geng)高(gao)要求(qiu)，減(jian)少了(le)人(ren)為(wei)的(de)並(bing)盤(pan)的(de)隨(隨)意(yi)性。

3.7.2 具(ju)有限(xian)位功能，在拉伸(shen)和(he)壓(ya)縮(suo)的(de)兩個(ge)極限(xian)位置有限(xian)位保護(hu)開(kai)關(guan)，防止(zhi)誤(wu)操作(zuo)。

3.7.3具(ju)有大(da)力(li)設(she)定功能，有(you)效的(de)防(fang)止彈(dan)簧在意外(wai)的(de)情況下對(dui)設(she)備(bei)造成的(de)損(sun)壞。

3.7.4具(ju)有位移保護(hu)設(she)定功能

3.7.5具(ju)有變形(xing)保護(hu)設(she)定功能

3.7.6 有(you)急停(ting)功能，如(ru)果在試驗中(zhong)出現意外，可(ke)以緊急停機(ji)。

3.8數(shu)據(ju)打印內容說明

可(ke)以對不(bu)同(tong)試驗模(mo)式的(de)測(ce)試數(shu)據(ju)進行分類打印。